主要规格及技术指标 |
1. 软X射线谱仪系统: 1.1探测能量范围:不窄于50—210eV 1.2能量分辨率:≤0.3eV(Al-L) 1.3轻元素探测能力:可探测Li、Be、B、C等轻元素 2. 电子光学系统 2.1二次电子分辨率:≤0.6nm@15kV; ≤1.1nm@1kV;具有卓越的低电压分辨率,可直接观察不导电样品; 2.2 分析束流:1pA-500nA可调,保证元素分析时能提供足够的束流,保证分析的快速、准确; 2.3样品交换方式:抽屉式大开门和气锁式两种,最大样品直径可达170mm(大开门式)。 3. 能谱仪系统 3.1 采用SDD电制冷技术,无需液氮,高分子超薄窗设计,探头面积60mm2 3.2 能量分辨率:≤129eV(Mn Ka FWHM)或更优; 3.3 元素分析范围:Be4-U92 4. 电子背散射衍射仪(EBSD)部分技术指标 4.1 *高速低噪音CMOS相机,分辨率1244*1024,并适合各种型号的电镜 4.2 *EBSD在线解析标定速度最高5000点/秒,此时花样分辨率仍能保持为156*128。电子图像分辨率高达8192*8192, EBSD面分布图分辨率高达4096*4096, 取向精度高达0.05度 |
主要功能及特色 |
1. 纳米级材料和析出相等微区形貌图像; 2. EDS电制冷能谱仪,材料的微区成分信息; 3. 配备EBSD电子背散射衍射,微区晶体取向信息; 4. 配备冷台,可实现样品低温观测。 5. 配备可旋转多维喷金设备。 通过软X射线谱得到微区化学结合态信息,材料微区-成分-晶体结构-化学结合态等多位一体的观察和分析;在材料图像、成分及化合价方面实现高分辨率、高灵敏度、高效分析,实现谱峰剥离能力和包括Li在内的轻元素探测能力,元素分析范围:Be4-U92;还可以加装各种原位反应台,进行原位研究。 |
主要附件及配置 | 冷台、离子溅射喷金设备、磨抛机。 |