大型仪器共享管理系统
飞行时间二次离子质谱仪
元素面分析
仪器编号
TY2024000569
规格
PHI nano TOF
生产厂家
日本PHI
型号
PHI nano TOF3
制造国家
ULVAC-PHI,INC./日本
分类号
--
出厂日期
2024-03-14
购置日期
2024-03-14
入网日期
2023-07-04
| 主要规格及技术指标 |
低质量28Si+质量分辨率：≥12000（m/∆m） 低质量29SiH+质量分辨率：≥12000（m/∆m） 高质量（质量数>200）质量分辨率：≥15000（m/∆m） 绝缘体（质量数=104）质量分辨率：≥12000（m/∆m） 最小脉冲宽度：≤0.7 ns（FWHM） 灵敏度：≥5.5×108 counts/nC 质量准确性（低质量）：<1 mu 质量准确性（高质量）：<10 ppm |
| 主要功能及特色 | 元素面分析 |
| 主要附件及配置 | 仪器主体包含但不限于进样腔室、分析腔室；真空抽气系统包括但不限于机械泵、涡轮分子泵、离子泵等；系统配置包含但不限于液态金属离子枪LMIG、飞行时间质量分析器、全自动五轴样品台、双气源离子枪、FIB功能以及仪器操控需要的计算机及软件系统等 |
暂无关联门禁
暂无收费标准
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