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场发射扫描电子显微镜
对金属材料、非金属材料（包括水泥、混凝土、陶瓷、无机盐类、氧化物、锂电池或镍氢电池材料等）、高分子聚合物等试样的表面形貌进行观察照相，尤其适合对纳米材料的微观组织及形貌进行观察分析；X射线能谱仪可对材料进行微区成份分析。
仪器编号
20111910
规格
S-4800
生产厂家
日本Hitachi公司
型号
S-4800I*
制造国家
日本
分类号
010102
出厂日期
2011-12-01
购置日期
2011-12-01
入网日期
2023-07-28
| 主要规格及技术指标 | 二次电子图像分辨率为1.0 nm(15kV)，2.0 nm(1kV)，1.4 nm (1kV，减速模式)；配备半导体背散射探头，背散射电子图像分辨率为3.5 nm（30KV），灵敏度达0.1Z；加速电压0.5～30kV，0.1kV/步；放大倍率为×20~×800,000；最大样品直径为50 mm,高度25 mm。配备50mm2 SDD硅漂移晶体X射线能谱探测器，分析元素范围为Be4-U92；分辨率为：MnK?优于129 eV (计数率为20000cps)，CK?优于60 eV (计数率为20000cps)，FK?优于65 eV（计数率为20000cps)，计数率可达1000～50000CPS，平均元素定量误差小于0.5％。 |
| 主要功能及特色 | 对金属材料、非金属材料（包括水泥、混凝土、陶瓷、无机盐类、氧化物、锂电池或镍氢电池材料等）、高分子聚合物等试样的表面形貌进行观察照相，尤其适合对纳米材料的微观组织及形貌进行观察分析；X射线能谱仪可对材料进行微区成份分析。 |
| 主要附件及配置 | 无 |
暂无关联门禁
暂无收费标准
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