多通道地表/冠层光谱测量系统
多通道地表/冠层光谱测量系统
  • 负责人
  • 王周锋
  • 存放地址
  • 南校区 雁塔校区
  • 联系电话
  • 13991144128
  • 测定地表植被、土壤的光谱反射率
    仪器编号
    20142083
    规格
    Field Spec 4 Hi-Res
    生产厂家
    ASD
    型号
    --
    制造国家
    美国
    分类号
    --
    出厂日期
    2024-02-27
    购置日期
    2014-10-01
    入网日期
    2023-07-28
    主要规格及技术指标 波长范围:350-2500nm。光谱分辨率,3nm @700nm;6 nm @ 1400/2100nm。采样间隔,1.4 nm @ 350-1000nm;1.1nm @ 1001-2500nm。扫描时间,100ms。杂散光,VNIR 0.02%, SWIR 1 & 2 0.01%。波长重复性,0.1nm。波长准确度,0.5 nm。最大辐射,VNIR2倍太阳光, SWIR 10倍太阳光。通道数,2151。检测器,VNIR检测器 (350-1000 nm): 512像元硅阵列传感器;SWIR1 检测器 (1001-1800 nm): InGaAs 检测器, TE制冷;SWIR2 检测器 (1801-2500nm): InGaAs 检测器, TE制冷。输入,1.5m光纤(25°视场). 可选前置镜头改变视场角。等效噪声辐射(外接光纤),VNIR1.0 X10-9 W/cm2/nm/sr @700 nm;SWIR 1 8.0 X10-9 W/cm2/nm/sr @ 1400nm;SWIR 2 8.0 X10-9 W/cm2/nm/sr @ 2100nm。
    主要功能及特色 测定地表植被、土壤的光谱反射率
    主要附件及配置

    暂无关联门禁

    暂无收费标准