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一、飞行时间二次离子质谱仪tof-SIMS（PHI nano TOF3）

1、主要功能特性

该仪器为日本ULVAC-PHI公司生产的PHI nanoTOF3，探测极限为ng/g-μg/g，空间分辨率可达50nm，具有离子成像及深度剖析能力，可建立矿物等的成分3D模型。

该仪器具有分析区域小、分析深度浅、不破坏样品且能精确分析绝缘样品的特点，可以服务于精细矿物学、材料化学、电池能源和生物制药等领域样品分析。

2、使用/送样注意事项

（1）样品可为块样、薄片样品、树脂固定样、粉末样、电极片样。

（2）除粉末样和电极片样，样品表面需抛光，且无碳或金属镀层。

（3）块样需小于2.2cm直径圆环。

3、存放地点

地学科技大厦406

4、负责人及联系方式

谭细娟  029-82339067

5、仪器预约链接

网页端：http://dygx.chd.edu.cn/cf/main/!equipments/equipment/index.41

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二、场发射电子探针EPMA（JXA-iHP200F）

1、主要功能特性

该仪器可对微区（微米范围）元素、显微表面形貌（二次电子像）及结构形态（背散射电子像）分析，可进行样品元素点、线、面测试。

2、使用/送样注意事项

（1）接受制备平整的电子探针样片。

（2）磁性样品、带粉尘样品请提前告知。

（3）不导电样品需要提前送样进行预处理。

3、存放地点

地学科技大厦415-416

4、负责人及联系方式

刘民武 13892801758

5、仪器预约链接

网页端：http://dygx.chd.edu.cn/cf/main/!equipments/equipment/index.17

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三、专用矿物定性定量X射线高功率分析系统XRD（Rigaku SmartLab）

1、主要功能特性

该仪器能够精确地对金属、非金属多晶样品进行物相定性定量分析；能够对矿物材料样品进行精确定量，包括石油系统专用矿物分析软件包、薄膜材料的平行光掠入射分析、样品在高温状态下的定性定量分析；能够对样品结晶度分析、晶体结构分析、晶胞参数计算，晶粒大小分析。

2、使用/送样注意事项

（1）需为200目（约75 µm）以下的粉末样品。

（2）送样量不少于1克。

3、存放地点

地学科技大厦408-409

4、负责人及联系方式

王柱命 13772026798

5、仪器预约链接

网页端：http://dygx.chd.edu.cn/cf/main/!equipments/equipment/index.16

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使用过程中有任何疑问，请联系工作人员

实管处设备管理科

郭耀仁 61105216

曾小寒 61105215